Lawrence E. Murr: Electron and Ion Microscopy and Microanalysis. Principles and Applications. Deutschland Marcel Dekker, Inc. New York and Basel. 1982.

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Lawrence E. Murr:
Electron and Ion Microscopy and Microanalysis. Principles and Applications.
Deutschland Marcel Dekker, Inc. New York and Basel. 1982.

gefunden im Sachgebiet: Sachbücher (engl.)

Buch, Hardcover

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