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Artikelbeschreibung

Tsui, Frank F.
LSI/VLSI Testability Design.
McGraw-Hill New York, 1986.
ISBN/EAN: 0070653410

gefunden im Sachgebiet: Elektrotechnik, Elektronik, Mechanik

701 S. Paperback/ broschiert

Sehr guter Zustand/ very good Ex-Library. With ill.

[SW: Integrated circuits Large scale integration Testing Very large scale integration]
Integrated, circuits, Large, scale, integration, Testing, Very, large, scale, integration
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