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Koschel, Heinz und Anto Jäger:
Probleme der Zuverlässigkeit von Halbleiter-Bauteilen - Reihe: Technische Mitteilungen: Halbleiter -
Eigenverl. der Fa. Siemens, o.J..

gefunden im Sachgebiet: Elektrotechnik

zahlr. techn. Zeichnungen, Formeln, - 16 Seiten brosch., ill. Einb., 4fach Lochung, Form. 21x30 cm

Einflüsse und Maßnahmen, Prüfverfahren, Zuverlässigkeitstests und Zeitraffung, Durchführung und Ergebnisse, (gute Erhaltung) El

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