Koschel, Heinz und Anton Jäger: Zeitraffende Zuverlässigkeitsprüfungen an Transistoren - Sonderdruck aus Nachrichtentechnische Zeitschrift, Heft 5/1964

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Artikelbeschreibung

Koschel, Heinz und Anton Jäger:
Zeitraffende Zuverlässigkeitsprüfungen an Transistoren - Sonderdruck aus Nachrichtentechnische Zeitschrift, Heft 5/1964 -
Eigenverl. der Fa. Siemens, o.J..

gefunden im Sachgebiet: Elektrotechnik

Grafiken, - 7 Seiten brosch., vierfach gelocht, Form. 21 x 30 cm

Zeitraffung, Fehlerarten, Volumeneinflüsse, Raffungsverfahren und Lebensdauerverteilungen, Erprobungstechnik (gute Erhaltung) El

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