Kim, J. I., R. Henkelmann F. Lux a. o.; 1976 International Conference Modern Trends in Activation Analysis Volume II: München Federal Republic of Germany 13. bis 17. September 1976 München, Repro-Mayer-Offset, 1976.

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Kim, J. I., R. Henkelmann F. Lux a. o.;
1976 International Conference Modern Trends in Activation Analysis Volume II: München Federal Republic of Germany 13. bis 17. September 1976
München, Repro-Mayer-Offset, 1976.

gefunden im Sachgebiet: Wissenschaft

1450 Seiten , 24 cm, kartoniert in englischer Sprache geschrieben, das Buch stammt aus einer Haushaltsauflösung, gebräunt, fleckig, Einbandkanten mit Bestoßungen, aus dem Inhalt: MATERIAL SCIENCES AND INDUSTRIAL APPLICATIONS - APPLICATIONS IN GEO- AND COSMO-SCIENCES - APPLICATIONS IN ARCHAEOLOGY, ART AND FORENSIC SCIENCES - ACCURACY AND PRECISION - SAMPLING AND HOMOGENEITY CONTROL - STANDARD MATERIALS - APPENDIX 1m3b 1976 International Conference Modern Trends in Activation Analysis Volume II; München Federal Republic of Germany 13. bis 17. September 1976; J.I. Kim; R. Henkelmann; F. Lux; 1976 Internationale Konferenz Moderne Trends in der Aktivierungsanalyse Band II; Münchener Bundesrepublik Deutschland 13. bis 17. September 1976; 1

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