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Artikelbeschreibung

Glaser, E.M., & H.Van der Loos
Analysis of thick brain sections by obverse-reverse computer microscpy., Application of a new, high clarity Golgi-Nisl stain.,
1981 J. Neurosci. Methods 4, 117-125 (1981)

gefunden im Sachgebiet: Varia

Obr., 8s., in gutem Zustand, [WES91]..

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