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Artikelbeschreibung

Glaser, E.M., & H. Van der Loos
Analysis of thick brain sections by obverse-reverse computer microscopy. Application of a new, hight clarity Golgi-Nissl Stain.,
1981 J. Neurosci. Methods 4, 117-125 (1981).,

gefunden im Sachgebiet: Varia

Obr., 8s., in gutem Zustand, [WES86].

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