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Artikelbeschreibung
Leach, Richard: gefunden im Sachgebiet: Varia 352 S. 19,6 x 2,3 x 23,6 cm, Hardcover
As new. Shrink wrapped. [SW: Nanometrologie, Mikrotechnologie, Nanotechnologie, Grundlagen der Ingenieurnanometrie, Mikro- und Nanotechnologien] Nanometrologie, Mikrotechnologie, Nanotechnologie, Grundlagen, Ingenieurnanometrie, Mikro-, Nanotechnologien
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