Bhushan, B. a. o. (Edts.): Applied scanning probe methods. Part 9: Characterization. (=Nano Science and Technology; 9). Berlin, Springer, 2008.

Die Antiquariatsbuchplattform von

Sie haben keine Artikel im Warenkorb.

Artikelbeschreibung

Bhushan, B. a. o. (Edts.):
Applied scanning probe methods. Part 9: Characterization. (=Nano Science and Technology; 9).
Berlin, Springer, 2008.
ISBN/EAN: 9783540740827

gefunden im Sachgebiet: Technik

LIX, 387 S. : Ill., graph. Darst. Hardcover

Like new. Shrink wrapped.

[SW: Nanowisssenschaft, Nanotechnologie, Physik]
Nanowisssenschaft, Nanotechnologie, Physik

EUR13,30
inkl. MwSt. zzgl. Versand: EUR 0,00
Lieferzeit: 1 - 7 Werktage

In den Warenkorb

Dieses Angebot wurde bereits 36 mal aufgerufen

Ihre zuletzt aufgerufenen Angebote

• Bhushan, B. a. o. (Edts.): Applied scanning probe methods. Part 9: Characterization. (=Nano Science ...

Sparen Sie Versandkosten beim Kauf ähnlicher Angebote dieses Anbieters

Linsmeier, Ch. and M Reinelt (Edts.):
1st International Conference on New Materials for Extreme Environments. (=Advanced Materials Research; Vol. 59).

EUR 43,80
Details zum Buch...

Champion, Yannick and Hans-Jörg Fecht:
Nano-Architectured and Nanostructured Materials. Fabrication, Control and Properties.

EUR 40,60
Details zum Buch...

Domininghaus, Hans:
Die Kunststoffe und ihre Eigenschaften.

EUR 13,50
Details zum Buch...