Wang, Zhong Lin: Reflection Electron Microscopy and spectotrophy for surface analysis Cambridge University Press, 2008.

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Wang, Zhong Lin:
Reflection Electron Microscopy and spectotrophy for surface analysis
Cambridge University Press, 2008.
ISBN/EAN: 9780521017954

gefunden im Sachgebiet: Physik

Revised ed. 460 S.; Ill. Paperback

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[SW: Elektronenmikroskopie, Spektroskopie]
Elektronenmikroskopie, Spektroskopie

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