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Artikelbeschreibung

Fultz, Brent and James Howe:
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials.
Springer, 2007.
ISBN/EAN: 9783540738855

gefunden im Sachgebiet: Elektrotechnik, Elektronik, Mechanik

3rd corrected Ed. 2008, corr. 2nd printing 2009. 778 S., Hardcover.

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[SW: Physics]
Physics
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