Chung, Deborah D. L. et. al.: X-ray Diffraction at Elevated Temperatures: A Method for In Situ Process Analysis. New York, NY: VCH., 1993.

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Chung, Deborah D. L. et. al.:
X-ray Diffraction at Elevated Temperatures: A Method for In Situ Process Analysis.
New York, NY: VCH., 1993.
ISBN/EAN: 9783527278428

gefunden im Sachgebiet: Chemie

VIII, 268 S., with numerous figures, Hardcover.

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[SW: Kristall ; Dynamik ; Hochtemperatur ; Röntgenstrukturanalyse, Physik, Astronomie]
Kristall, Dynamik, Hochtemperatur, Röntgenstrukturanalyse, Physik, Astronomie

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