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Artikelbeschreibung

Bourgoin, J. and M. Lannoo:
Point defects in semiconductors II: Experimental Aspects. (=Springer series in solid-state sciences ; 35). With a Foreword by G. D. Watkins.
Berlin, Springer, 1983.
ISBN/EAN: 9783540115151

gefunden im Sachgebiet: Physik

295 S.; Ill. Hardcover

Ex.-Libr., Good condition.

[SW: Punktdefekte, Halbleiter, Halbleiterphysik]
Punktdefekte, Halbleiter, Halbleiterphysik
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