Bourgoin, J. and Lannoo, M.: Point Defects in Semiconductors II. Experimental Aspects. Springer Series in Solid-State Sciences; Vol. 35. Berlin: Springer., 1983.

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Bourgoin, J. and Lannoo, M.:
Point Defects in Semiconductors II. Experimental Aspects. Springer Series in Solid-State Sciences; Vol. 35.
Berlin: Springer., 1983.
ISBN/EAN: 9783540115151

gefunden im Sachgebiet: Physik

295 p., with numerous figures, Hardcover.

Good condition. Ex-Library with usual markings.

[SW: Physics]
Physics

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