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Grasserbauer, Manfred, Hans J. Dudek und Maria F. Ebel:
Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS (Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie), AES (Auger-Elektronen-Spektrometrie), XPS (Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie).
Berlin etc.: Springer, 1986.
ISBN/EAN: 9783540150503

gefunden im Sachgebiet: Chemie

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VIII, 300 Seiten mit 154 Abb.Antikbuch24-SchnellhilfeAbb. = Abbildung(en) und 20 Tab.; 25 cm. Hardcover/Pappeinband.

Guter Zustand. Bibliotheksexemplar mit Stempeln und Signatur auf Einband. Sonst Seiten sauber. / Good. Ex-library with usual markings. Clean pages.

[SW: Sekundärionen-Massenspektrometrie; Auger-Spektroskopie; Röntgen-Photoelektronenspektroskopie, Physik, Astronomie, Technische Chemie, Lebensmitteltechnologie, Textiltechnik und andere Technologien]
Sekundärionen-Massenspektrometrie;, Auger-Spektroskopie;, Röntgen-Photoelektronenspektroskopie, Physik, Astronomie, Technische, Chemie, Lebensmitteltechnologie, Textiltechnik, andere, Technologien

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