Rendtel, Ulrich und Hans-Joachim Lenz: Adaptive Bayes`sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung. (=Arbeiten zur angewandten Statistik ; Bd. 33). Heidelberg : Physica-Verl., 1990.

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Rendtel, Ulrich und Hans-Joachim Lenz:
Adaptive Bayes`sche Stichprobensysteme für die Gut-Schlecht-Prüfung. (=Arbeiten zur angewandten Statistik ; Bd. 33).
Heidelberg : Physica-Verl., 1990.
ISBN/EAN: 9783790804683

gefunden im Sachgebiet: Ökonomie-allgemein

IX, 231 S.; Mit 41 Paperback

Guter Zustand. Bibliotheksexemplar.

[SW: Statistische Qualitätskontrolle ; Stichprobenplan ; Bayes-Verfahren, Statistik, Wirtschaft]
Statistische, Qualitätskontrolle, Stichprobenplan, Bayes-Verfahren, Statistik, Wirtschaft

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