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Technik - Stojadinovic, N. D. and M . Vanzi, Microelectronics Reliability: Special Issue Reliability of Electron Devices, Failure Physics and Analysis Pergamon Pr, Subjects - Engineering - Electrical & Optical - Electronics 2002.
gefunden im Sachgebiet: Technik
Seiten 1282 -1890 & 3 Seiten Author Index Brosch.
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