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Scheer, Stefan:
Internationales Patent-, Muster- und Warenzeichen-Recht. Ausgabe 1989.
Hürth-Efferen. Scheer-Verlag. 1989.

gefunden im Sachgebiet: Recht, Judikative, Gesetze

(L / 50) 773 (9) Seiten. 48. Aufl., 8ºAntikbuch24-SchnellhilfeOktav = Höhe des Buchrücken 18,5-22,5 cm. Orig.-Pappbd. (Paperback, Softcover, weiss)

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