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Siegel, Benjamin M.:
Modern Developments in Electron Microscopy.
New York u. London: Academic Press, 1964.

gefunden im Sachgebiet: Naturwissenschaften

Bibliotheksexpl. m. Signaturen u. Stempeln. - Rücken a. d. Stehkante leicht gestaucht, Buchblock etw. nachgedunkelt, sonst einwandfrei. Gutes Expl. 8ºAntikbuch24-SchnellhilfeOktav = Höhe des Buchrücken 18,5-22,5 cm , Leinen 432 S., zahlr. Abb.Antikbuch24-SchnellhilfeAbb. = Abbildung(en)

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Mikroskopie

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